JIS C7030-1993 晶体管的测量方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-03 06:10:24
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【英文标准名称】:Measuringmethodsfortransistors
【原文标准名称】:晶体管的测量方法
【标准号】:JISC7030-1993
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1993-02-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:场效应晶体管;晶体管;双极晶体管;电学测量
【英文主题词】:transistors;bipolartransistors;field-effecttransistors;electricalmeasurement
【摘要】:この規格は,電子装置に用いるバィポーラトランジスタ及び電界効果トランジスタ(以下,両者を区別しないときには,単にトランジスタという。)の電気的性能の測定方法について規定する。
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:81P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:晶体管的测量方法
【标准号】:JISC7030-1993
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1993-02-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:场效应晶体管;晶体管;双极晶体管;电学测量
【英文主题词】:transistors;bipolartransistors;field-effecttransistors;electricalmeasurement
【摘要】:この規格は,電子装置に用いるバィポーラトランジスタ及び電界効果トランジスタ(以下,両者を区別しないときには,単にトランジスタという。)の電気的性能の測定方法について規定する。
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:81P;A4
【正文语种】:日语
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