IEC/PAS 62181-2000 IC锁定试验
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时间:2024-05-04 20:42:17
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【英文标准名称】:IClatch-uptest
【原文标准名称】:IC锁定试验
【标准号】:IEC/PAS62181-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量用连接件;电子工程;集成电路;电路;测量方法;规范(验收);测量技术;电子设备及元件;测量;锁定
【英文主题词】:electronicequipmentandcomponents;latch-up;measurement;connectionsformeasurement;measuringmethods;circuits;measuringtechniques;integratedcircuits;electronicengineering;specification(approval)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:19P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:IC锁定试验
【标准号】:IEC/PAS62181-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量用连接件;电子工程;集成电路;电路;测量方法;规范(验收);测量技术;电子设备及元件;测量;锁定
【英文主题词】:electronicequipmentandcomponents;latch-up;measurement;connectionsformeasurement;measuringmethods;circuits;measuringtechniques;integratedcircuits;electronicengineering;specification(approval)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:19P;A4
【正文语种】:英语
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